SD0832 NANODÜNYAYA YOLCULUK: GÖRÜNMEYENİ GÖRMEK

Genel Bilgi

Dersin Amacı / Hedefi

Bu dersin amacı; alan dışı öğrencilerin mikro ve nano ölçekteki dünyayı tanımasını, maddenin görünmeyen yapısını incelemek için kullanılan modern karakterizasyon tekniklerinin temel mantığını kavramasını sağlamaktır. Ders kapsamında, gelişmiş mikroskopi ve analiz yöntemlerinin günlük yaşam, doğadaki teknolojik çözümler, yeni nesil elektronikler ve endüstriyel Ar-Ge süreçlerindeki güncel uygulamaları ele alınır. Formüllerden uzak, görsel ve teknoloji odaklı bir yaklaşımla öğrencilerin bilimsel okuryazarlığını ve vizyonunu geliştirmek hedeflenmektedir.

Dersin İçeriği

Bu derste makro dünyadan nano dünyaya uzanan ölçek kavramı, mikroskopi teknolojilerinin tarihsel gelişimi ve doğadaki nanoteknoloji örnekleri incelenmektedir. Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), X-Işını Kırınımı (XRD) ve Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) tekniklerinin karmaşık matematiksel formüllere girilmeden ve günlük yaşam örnekleriyle temel çalışma mantıkları tanıtılmaktadır. Ayrıca kristal ve amorf yapıların modern cihazlardaki önemi, yeni nesil malzemeler, verilerin dijital ortamda analizi ve karakterizasyon yöntemlerinin sanayideki multidisipliner uygulamaları ele alınmaktadır.

Dersin Ön Koşulu

Kaynaklar

Cullity, B. D. & Stock, S. R. Elements of X-Ray Diffraction. Prentice Hall. Suryanarayana, C. & Norton, M. G. X-Ray Diffraction: A Practical Approach. Springer. Goldstein, J., et al. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer. Binnig, G., Quate, C. F., & Gerber, C. Atomic Force Microscope. Physical Review Letters. Bhushan, B. Springer Handbook of Nanotechnology. Springer.

Notlar

Güncel bilimsel makaleler, üretici firmaların (JEOL, Thermo Fisher, Bruker) güncel uygulama notları

Dersin Öğrenme Çıktıları

Haftalık Akış

Öğrenci İş Yükü - AKTS